|
DYFRAKTOMETRY XRD Dyfrakcja rentgenowska XRD (ang. X-ray diffraction) jest nowoczesną techniką umożliwiającą badania szerokiego zakresu materiałów w postaci ciał stałych i ciekłych, takich jak: metale, minerały, polimery, katalizatory, plastiki, farmaceutyki, materiały cienkowarstwowe, ceramika, półprzewodniki, etc.
W przemyśle i instytucjach naukowych, dyfrakcja rentgenowska stała się niezastąpioną metodą badania, charakteryzowania i kontroli jakości materiałów. Obszary zastosowań techniki XRD to jakościowa i ilościowa analiza fazowa, określanie struktur, badanie tekstury i naprężeń.
Stałe udoskonalanie elementów systemu takich jak: źródło promieniowania, układy optyczny, detektory, mocowanie próbki czy oprogramowanie, zapewniają, że firma Bruker AXS może zaoferować odpowiednie rozwiązania dla praktycznie wszelkich zadań analitycznych. Oferowane systemy są budowane na tej samej platformie, co zapewnia łatwość modernizacji dyfraktometru w przyszłości.
D2 PHASER
 D2 PHASER to nowoczesny analizator biurkowy wykorzystujący dyfrakcję rentgenowską do jakościowej i ilościowej analizy faz krystalicznych. D2 PHASER wyposażony jest w wewnętrzny komputer i monitor LCD.
Urządzenie posiada łatwe w obsłudze, intuicyjne oprogramowanie DIFFRAC.SUITE, które pozwala na szybką analizę fazową. Dodatkowo detektor paskowy w technologii LYNXEYE™, pozwala na zbieranie danych krótkim czasie.
Dzięki wykorzystaniu wielu innowacyjnych technologii D2 PHASER jest kompaktowym, bardzo szybkim i wielofunkcyjnym dyfraktometrem. Urządzenie jest przenośne i łatwe do zainstalowania, potrzebne jest jedynie zasilanie sieciowe.
Prostota obsługi, wysoka jakość i niskie koszty zakupu to główne zalety dyfraktometru D2 PHASER. Przyrząd ten został zaprojektowany do aplikacji w przemyśle cementowym, geologicznym, chemicznym, farmaceutycznym, jak również dla celów naukowych i edukacyjnych. więcej...
D2 CRYSO
Dyfraktometr D2 CRYSO, służy do badania orientacji kryształów i wykorzystuje nowatorską, metodę dyspersji energii (ED-XRD). D2 CRYSO jest idealnym rozwiązaniem do określania struktury przestrzennej średnich i dużych monokryształów. D2 CRYSO wyposażony jest w 30mm2 detektor XFlash® Silicon Drift (SDD) i mikroogniskujące źródło promieniowania rentgenowskiego. Taka kombinacja daje doskonałą rozdzielczość energetyczną i szybkość, a w dodatku nie wymaga układu chłodzenia. D2 CRYSO został zaprojektowany do badania małych i dużych próbek stałych, monokrystalicznych – do 385mm średnicy i 210mm grubości. Typowe próbki to półprzewodniki takie jak Si, SiC, GaAs or Ge, kryształy optyczne jak tlenki, fluorki lub azotki, kryształy monochromatyczne, diamenty przemysłowe i rzadkie monokryształy metali, takie jak Ni, Ag czy Au. więcej...
D4 ENDEAVOR
 Dyfraktometr D4 ENDEAVOR jest kompaktowym, zautomatyzowanym systemem proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) dedykowanym kontroli procesów przemysłowych oraz kontroli jakości. Pozwala on na przeprowadzanie jakościowych oraz ilościowych analiz fazowych, badań zmęczenia materiałowego oraz badań strukturalnych. Dyfraktometr D4 ENDEAVOR jest intuicyjny w obsłudze - interfejs użytkownka zapewnia wysoki stopień automatyzacji, a podawanie próbek odbywa się za pomocą pasa transportowego lub robota. Dyfraktometr jest wyposażony w duży magazyn i pozwala na przechowywanie wielu różnorodnych próbek. Próbka może być cieczą lub ciałem stałym (np. proszkiem), niewielką w rozmiarach bądź ilości, o nieregularnym kształcie, wrażliwą na otoczenie. D4 ENDEAVOR jest doskonałym rozwiązaniem dla przemysłu aluminiowego, cementowego, chemicznego, farmaceutycznego, produkcji barwników oraz geologii. więcej...
D8 FOCUS Dyfraktometr D8 FOCUS zapewnia wysoką wydajność oraz doskonałą jakość danych analitycznych. Oprzyrządowanie oraz oprogramowanie instrumentu są zoptymalizowane dla łatwego użytkowania i czynią z dyfraktometru idealne urządzenia dla laboratoriów przemysłowych oraz szkolnictwa wyższego.
D8 Focus pracuje w geometrii Bragg-Brentano, gdy mamy do czynienia z próbkami proszkowymi lub w geometrii wiązki równoległej (wraz ze zwierciadłem Goebla) - dla próbek o nieregularnym kształcie. Optyka dyfraktometru i uchwyt próbki mogą zostać wymienione bez użycia narzędzi i regulacji. D8 Focus jest standardowo wyposażony w licznik scyntylacyjny, z wysokim dynamicznym zakresem i niskim tłem. Aby obniżyć tło fluoryzującej próbki można użyć detektora z dyspersją energii promieniowania rentgenowskiego Sol-X. Do szybkich pomiarów idealnym zastosowaniem jest detektor liniowy LynxEye, który może przyspieszyć pomiary aż do 200-krotnie. Zastosowanie w analizie dyfraktometru D8 FOCUS pozwala na identyfikację i określenie ilościowo różnych faz wewnątrz próbki. Nieznane materiały można oznaczać i szczegółowo analizować ich krystaliczną strukturę używając oprogramowania TOPAS. Te same dane zapewniają także informację o rozmiarach krystalitu oraz o mikronapięciach krystalicznych. Dodatkowo komora temperaturowa pozwala na przeprowadzenie obserwacji zmian fazowych. więcej... D8 ADVANCE Dyfraktometr D8 ADVANCE jest najlepiej sprzedającym się urządzeniem stosowanym w dyfrakcji proszkowej. Spełnia on wszelkie oczekiwania w pomiarach metodą dyfrakcji rentgenowskiej. Możliwość kombinacji: źródeł promieniowania rentgenowskiego, optyki, różnych rodzajów próbek oraz detektorów pozwala osiągnąć wymaganą konfigurację. System można nabyć w wersji podstawowej, ale również istnieje możliwość jego rozbudowy.Optyka dyfraktometru D8 ADVANCE typu „push-plug” pozwala na szybkie przełączenie się pomiędzy geometrią typu Bragg-Brentano a geometrią promieniowania równoległego bez konieczności przebudowy systemu. Dyfraktometr może być wyposażony w automatyczny zmieniacz próbek umożliwiający pomiar do 90 próbek w geometrii transmisyjnej i odbiciowej. W zależności od wymagań analitycznych użytkownik może wybrać pomiędzy dynamicznymi licznikami scyntylacyjnymi, detektorem z dyspersją energii promieniowania rentgenowskiego Sol-X lub też szybkim detektorem Super Speed VANTEC-1 czy LynxEye. Każdy dyfraktometr jest gotowy do pracy w zakresie od ilościowej i jakościowej identyfikacji faz w zdeterminowanych i nie zdeterminowanych warunkach otoczenia, aż do oznaczania struktury kryształu próbek proszkowych, oznaczenia wielkości krystalitu, analizy mikro naprężeń, zmęczenia materiału oraz preferowanej orientacji. więcej... D8 ADVANCE Z DAVINCI NOWOŚĆ!
D8 ADVANCE Z DAVINCI – pierwszy dyfraktometr proszkowy do wszystkich zastosowań w dyfrakcji.
 Innowacyjny projekt dyfraktometru D8 Advance z Davinci gwarantuje bezpieczeństwo operatorowi oraz pozwala na łatwe i intuicyjne użytkowanie. Odpowiedni dobór podzespołów, elektroniki i oprogramowania umożliwia szybką adaptację urządzenia do wszelkich zastosowań w dyfrakcji proszkowej. Układy optyczne zastosowane w nowym dyfraktometrze D8 Advace z Davinci zapewniają rzeczywisty system „podłącz i używaj” (plug’n play), które czasami nie wymaga nawet ingerencji operatora. Nowy dyfraktometr został wyposażony w układy optyczne, które pozwalają na automatyczną zmianę geometrii bez użycia narzędzi. D8Advance nowej generacji, dzięki stabilności przyrządu oraz jego podzespołów gwarantuje każdemu możliwość osiągania najlepszych wyników.
Pakiet oprogramowania DIFFRAC.SUITE dla nowego dyfraktometru D8 Advance.
Dla owego dyfraktometru D8 Advance z Davinci stworzono nowy pakiet oprogramowania DIFFRAC.SUITE. Oprogramowanie jest tak skonstruowane, aby każdy zamontowany komponent automatycznie był rejestrowany w systemie z odpowiednimi parametrami. DIFFRAC.SUITE to oprogramowanie intuicyjne, która pozwala Użytkownikowi na personalizację ustawień, a także posiada wszystkie zalety poprzedniej wersji.
Nowy dyfraktometr spełnia wszystkie wymogi bezpieczeństwa i posiada wszelkie niezbędne certyfikaty, aby jego użytkowanie było zgodne z obowiązującymi lokalnymi przepisami. więcej...
D8 DISCOVER Dyfraktometr D8 DISCOVER to dyfraktometr wykorzystywany jest do badań kontroli jakości procesów produkcyjnych przy zastosowaniu rozwiązań techniki cienkiego filmu „Thin Film”. Dyfraktometr D8 DISCOVER bazuje na platformie D8 z niezawodnym mechanizmem i ergonomią. Posiada zwierciadło Goebla trzeciej generacji, które to zapewnia najwyższą gęstość strumienia promieniowania rentgenowskiego, co jest istotą dla wszystkich zastosowań techniki cienkiego filmu „Thin Film”.
Wysoko wydajne rodzaje optyki są wyselekcjonowane i wymienialne po to aby zapewnić optymalną rozdzielczość dla każdego z możliwych zastosowań oraz dla różnorodnych próbek. Optymalne podawanie próbek jest zaletą nowych stolików UMC, tak samo jak różnego rodzaju kół Euler’a w badaniach np. naprężeń szczątkowych, tekstury, mikrodyfrakcji oraz temperaturowych. więcej... NANOSTAR Obecnie naukowcy i inżynierowie materiałowi prowadzą badania nad właściwościami materiałów w skali nano. Postęp w dziedzinie ciekłych kryształów, organicznych metali i pokryć cienko warstwowych jest możliwy dzięki badaniom i zmianom ich nanostruktury. Niezawodną, ekonomiczną i bez destrukcyjną metodą analizy nanostrukturalnych materiałów jest metoda SAXS (Small-Angle X-ray Scattering).SAXS dostarcza informacji takich jak wielkość cząstek, rozkład rozmiarów od 1 do 100 nm, orientację w cieczach, proszkach i w próbkach o dużym rozmiarze. W tym celu wykorzystuje się do badań przyrząd NANOSTAR, który posiada znakomite źródło promieniowania rentgenowskiego połączone z innowacyjną multi-warstwową optyką. Zapewnia on intensywny punktowy promień padający na próbkę, zaś dwuwymiarowy detektor HI-STAR, jest praktycznie bezszumowy. więcej... |
© Copyright 2006-2010 Bruker Polska Sp. z o.o.